| 用于定位样品中的单个发射体的方法、光学显微镜和计算机程序 |
| DE102022119589 2022-8-4 发明授权 |
| 2023-11-23 |
| 本发明涉及一种用于在样品中定位各个发射器的方法，所述方法具有第一定位步骤和第二定位步骤，所述第一定位步骤包括用照射光照射所述样品，检测所述发射器的光发射并根据检测到的光发射确定所述发射器在所述样品中的位置，所述第二定位步骤具有比所述第一定位步骤更高的精度，所述第二定位步骤包括在布置在所述第一定位步骤中确定的所述发射器的位置周围的照射位置处用具有局部最小值的所述照射光的强度分布照射所述发射器， 检测所述发射器针对所述照明位置的光发射，以及根据针对所述照明位置检测到的光发射来确定所述发射器的位置，其中，在所述第一定位步骤中确定的所述发射器的位置包括相对于在所述第二定位步骤中确定的同一发射器的位置的系统偏差，并且其中，在所述第二定位步骤中应用补偿所述系统偏差的位置校正来确定所述照明位置，以及用于执行所述方法的光学显微镜和计算机程序。 |
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