| 自动聚焦检测装置和具有相同的显微镜系统 |
| EP05107628 2005-8-19 发明申请 |
| 2006-2-22 |
| AF暗场照明装置60和一物镜透镜31被移动，作为所述单位。一种组织样品中Sl5Petri盘100是通过红外照射光入射与倾斜角从LED光源63。所述铸造的所述红外散射的光使光从所述组织样品l6S。所述l6散射的光的一部分穿过所述物镜透镜31，从而形成一暗场显微图像; 它是由一个CCD摄像机70捕获的。所述暗场显微图像的锐度是依赖于所述物镜透镜31所述的位置。所述物镜透镜31所述的位置在其所述暗场显微图像显示出最高的锐度被确定的以被所述聚焦位置。 |
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