| 差分干涉观测方法和显微镜 |
| JP2005311021 2005-10-26 发明申请 |
| 2007-5-17 |
| 要解决的问题 : 以提供一个差分干涉观测方法，其使它可能以容易地进行微分干涉观察通过使用一种同轴外部照明光学系统，其具有一抗眩光的功能，和以提供一种显微镜。溶液 : 所述差分干涉观测方法使用所述共轴向外部照明光学系统引导的光从光发射的光线源到一个样品面通过一分束器和一个物镜，和然后引导该光射线，发出从所述试样表面，以一种用于所述标本的图像面观察装置通过所述物镜和所述分束器。一个波长板是设置在所述样品表面侧的所述物镜透镜。所述光源之间设置一偏振器和所述分束器。一个光学分析仪是该分束器和所述观察装置之间设置。一个差分干涉棱镜被设置后所述物镜的聚焦面附近。等价相反的符号被给定到一个相位差异使两个之间的线性偏振的分离发生在一个光学轴通过所述差分干涉棱镜和具有振荡方向垂直于每个其它，和一相位的差值，其中所述波长板施加到所述两个线性极化。版权 : (C)2007，inpit |
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