| 控制器，用于原子力显微镜 |
| KR1020057011268 2005-6-17 发明授权 |
| 2007-4-25 |
| 一控制器，用于基于悬臂的仪器，包括原子力显微镜，分子力探针仪器，高-分辨率profilometers和化学或生物感测探头。所述控制器输出采样的所述光检测器通常用于检测悬臂偏转在这些仪器与一非常快速的模拟\/数字转换器(ADC)。然后该输出信号的所得到的数字化表示处理与现场可编程栅阵列和数字信号处理器不使模拟电子设备的使用。模拟信号处理是固有地同时使它们中的数字计算被固有地完善的噪声不添加任何随机噪声到所述测量信号。由场可编程门阵列和数字信号处理器处理所述控制器的最大的灵活性，因为它可以被通过编程改变装置，而不修改所述控制器的硬件。 |
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