荧光显微镜。
 
NL1030102  2005-10-3  发明授权

2007-4-4
 
  本发明提供了一种荧光显微镜以及使用该测量荧光的方法。该显微镜包括硅晶片过滤膜是高度平坦和不发荧光。此外,它具有非常高的孔眼密度,使得小的表面面积足够用于有效测量。使用相机的位置敏感检测器并且使得能够以较佳的光学分辨率的优点,这意味着光学器件具有较小数值孔径和较小放大倍数可以使用,有更大的工作距离。所有这些因素加在一起提供一种荧光显微镜可比现有荧光显微镜更迅速测量。
 
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