| 发光显微镜检查的具有增强的分辨率 |
| WOEP06007212 2006-7-21 发明申请 |
| 2007-1-25 |
| 本发明涉及一种发光显微术方法。根据所述的方法，一个样品(24)是通过激发辐射激发(A)，用于定义所发射的发光辐射(F)。所述的发光样品(24)可以改变一个第一之间的发光状态(5)其中，所述刺激性增加了与所述增加激发辐射功率，以一最大值(18)，其是与一个激励相关联的辐射功率门限值(19)，和一第二发光状态(6)其中，所述样品(24)相比，具有刺激性降低到第一状态(5)。该样品(24)可以进入第二状态(6)通过与一个激励辐射功率照射上述所述门限值(19)。该样品的部分区域(24)可以进入第一状态(5)和相邻的部分区域到第二状态(6)，由于该激发辐射(A)与激励辐射分布的应用，其具有在该阈值上方的至少一个局部功率最大值(19)。所述图像的所述的发光样品(24)包括样品区域第一中的状态(5)和样品区域在第二状态(6)，提供所述图像与一个本地中被增强的分辨率，其关系到所述的激发辐射分布。本发明还涉及一种激光扫描显微镜包括一个分束器(113)，由其装置的照明辐射通过一照明光束发射源(105)是朝向一个样品(103)，沿一照明束路径(B)。所述分束器(113)上不使照明辐射反射所述样品(103)通，建立到一检测器装置(104)，以及，为此，被设置在所述的照明光瞳的光束路径(B)和部分地反射。所述分束器包括一个分束器面(122)中所述的照明辐射被反射，用于至少三个点(123a的一-d)，其位于所述分束器上表面(122)周围形成一个圆上所述刺穿点(125)。所述的光学轴(oa)，创建一个干扰图案(128)在所述照明样品(103)中所形成的斑(126)，其被周期性地分布在所述样品(113)。 |
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