| 干涉显微镜和用于操作干涉显微镜的方法 |
| US11458914 2006-7-20 发明申请 |
| 2006-12-28 |
| 本发明涉及一种干涉显微镜和一种用于操作干涉显微镜，特别是4°显微镜，驻波场显微镜或I2M，I3M或I5M显微镜的方法，提供了至少一个与样品相关联的样品支撑单元。 为了确定干涉光在样品区域中的相位， 基于所述干涉显微镜能够对准的基础上，所述干涉显微镜的特征在于，为了确定所述干涉显微镜的所述样品区域中的照明状态，所述样品支撑单元的至少一个平面区域被配置为能够通过光学显微镜检测。 |
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