| 显微镜物镜，显微镜和过程，用于检测一个对象与一个显微镜 |
| DE102005023972 2005-5-20 发明申请 |
| 2006-11-23 |
| 可用本发明涉及一种显微镜物镜(1)与一个物镜的情况下(17，2，3)，数个透镜(7，8)和栽培接口(14)。所述透镜(7，8)是在所述物镜的情况下(17，2，3)取。在所述物镜的情况下(17，2，3)取透镜(7，8)表现出一个Z-轴。该显微镜物镜(1)是可与所述栽培接口(14)与一显微镜。与所述显微镜物镜(1)它是以被所述的光学说明的可能的，以减少所述总误差所述显微镜进一步的和理想证明，以最小化。该显微镜物镜是根据本发明，其特征在于通过一个转向装置能够以匝(16)，与其中所述物镜的情况下(17，2，3)相对于所述栽培接口(14)可旋转的是，在顺序通过所述物镜壳体(17，2，3)取透镜(7，8)在所述显微镜物镜的培养条件(1)在所述该Z-轴周围的显微镜(18)。所述另外一个所述可用本发明涉及一种显微镜和一个过程，用于与一个显微镜检测一物体。 |
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