| 微光刻和荧光显微镜中的超分辨率 |
| US11147792 2005-6-7 发明申请 |
| 2005-12-1 |
| 在诸如共焦激光显微镜的扫描光学系统中，光束被聚焦到样品中的斑点以激发斑点中的荧光物质或其它可激发物质， 通过提供适合于抑制可激发物质的激发的波长光束，使激发的有效尺寸小于光斑的尺寸， 将该第二光束成形为具有最小中心强度的图案， 以及将该中心最小值与聚焦光斑的中心强度最大值重叠， 从而在光斑内，淬灭光的强度随着离光斑中心的距离而增加，从而优先淬灭光斑外围部分中的激励，从而减小激励的有效尺寸，从而提高系统的分辨率。 在本发明的优选ET中， 淬火光的中心最小值通过在焦平面上成像多对淬火光源而在样品中产生淬火辐射图案而进一步变窄， 排列在正则的顶点处， 偶数边多边形， 其中心在样品中成像激励辐射的中心最大值， 并且使得每对的两个构件在多边形的相对顶点上并且发射相互相干和异相的光，并且由不同对发射的光彼此不相干。 |
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