| 一种用于半导体芯片透射电镜样品分析的样品架 |
| CN202321631986.3 2023-6-26 实用新型 |
| 2023-10-31 |
| 本实用新型公开了一种用于半导体芯片透射电镜样品分析的样品架。该用于半导体芯片透射电镜样品分析的样品架包括样品架本体，所述样品架本体包括两个支臂，两个所述支臂相对设置，两个所述支臂之间设有用于放置样品的盛放柱；至少一个所述支臂上设有供镊子夹持的夹持槽，所述夹持槽侧面开口且贯穿所述支臂的外侧边缘。通过采用上述方案，解决了现有的样品架在用镊子夹样品架时容易被夹弯曲、被夹伤以及被夹飞的问题。 |
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