| 一种双面探针3D显微镜测试平台 |
| CN202321121541.0 2023-5-11 实用新型 |
| 2023-10-31 |
| 本实用新型属于测试技术领域，尤其涉及一种双面探针3D显微镜测试平台，包括测试台和支撑柱，所述测试台顶端设置有防护装置，所述放置圆板外壁设置有固定装置，所述测试台顶端固定安装有连接架，所述连接架顶端设置有测试装置，所述连接架正面设置有照明装置。该双面探针3D显微镜测试平台，通过设置防护装置，可以将待测试的半导体放置于具有防护功能的装置中进行测试，从而避免了半导体裸露在外部而容易受到外界因素的破坏，通过设置固定装置，可以将待测试的半导体进行固定，从而使得半导体能够放置的更加稳定，从而提升了测试结果的精度，通过设置照明装置，可以为测试提供光源，也进一步地提升了测试结果的精确性。 |
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