产业集群信息网

产业专利数据

扫描探针显微镜组件和用于进行分光光度，近场和扫描探针测量的方法

US11355260 2006-2-14 发明申请

2006-10-26

一种扫描探针显微镜组件，其具有原子力测量(AFM)模式，扫描隧穿测量(STM)模式，近场分光光度计模式，近场光学模式和用于检查对象的硬度测试模式。