| 观察或测量装置和具有该观察或测量装置的观察或测量系统，具有该观察或测量装置的微弱光摄像光学系统和显微镜装置，具有该显微镜装置的显微镜系统，以及具有该观察或测量装置的观察装置和观察系统 |
| US11386615 2006-3-23 发明申请 |
| 2006-10-26 |
| 本发明提供一种观察或测量装置，其至少具有无限远校正物镜和成像透镜，并且满足条件 : 4.56±D·Na′±30，其中D是物镜的共焦距，Na′是成像透镜的数值孔径。 希望使从物镜的安装位置到成像透镜的最物侧表面的距离可变，并且满足条件0.5fl |
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