| scanmikroskop和一个程序用于所述相位对比显微镜检查 |
| DE102005015294 2005-4-1 发明申请 |
| 2006-10-5 |
| 一种scanmikroskop，在特定的共焦scanmikroskop，与一源的光(1)用于所生产的照明光(2); 与一个物镜(17，21)到所述的照明光(2)的所述引导到一个样品的样品电平(19)和一个位置检测器(28)，以测量所引起的横向由所述样品(19)diverson一个由所述样品(19)穿过的照明光(2)它是这样的一种方式进行排列和训练中还关于一种尤其是高分辨率，其两侧上的所述样品的电平至少在每个情况下，一个物镜(17，21)是设置和使有关至少两个面向目标的所述样品电平(17，21)是一个在所述其它太设置每个其它，使得通过一个物镜(17，21)到该样品(19)LED的照明光(2)通过所述相反的事物物镜(21，17)catchable和作为检测光到所述位置检测器(28)是conductible。所述另外一个过程，用于所述相位对比显微镜是表示作为一种这样的scanmikroskop。 |
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