| DLP型狭缝扫描显微镜 |
| WOJP06306410 2006-3-29 发明申请 |
| 2006-10-5 |
| DLP型狭缝扫描显微镜通过其一个狭缝光束被应用于DMD控制下，狭缝光束照明被执行，和一个位置和一个样品上的一个所述的照明光的范围和一个狭缝的宽度用于照明所述样品可以容易地调整。激光光束被扩散通过一个凹面透镜(2)的后焦平面上和聚焦一超高数值孔径的物镜(7)由一个凸透镜(3)。在一个DMD装置(4)，一微镜控制中，以接通一个狭缝形状。所述狭缝光束是由二向色反射镜(5)，穿过所述的后焦平面，进入所述超高数值孔径的物镜(7)，和被折射，以达到所述样品上的一盖玻璃(8)如一个电池。所述狭缝光束斜向进入所述样品和一切割表面被一狭缝中的点亮-形状。 |
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