| 显微镜 |
| JP2005040434 2005-2-17 发明申请 |
| 2006-8-31 |
| 要解决的问题 : 以设定所述的光学轴由一检测器上的入射光以一个最佳位置。在一个显微装置，使用一个反射物镜镜。溶液 : 该显微装置，设置与所述从样品反射的光学路径上的物镜向所述检测器，被配备有一光学轴校正装置(光学轴校正装置18)用于校正所述的相对位置检测器所制成的光入射到所述的光学轴在所述检测器，其中所述的光学轴的所述的光由入射在所述检测器被设定到最佳位置。所述的光学轴校正装置(光学轴校正装置18)一种光学路径上的所述光学轴线上移动所述反射之间的物镜和所述检测器，和所述检测器上的校正所述入射位置和设置所述的光学轴以一种最佳位置。版权 : (C)2006，膜℃。 |
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