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穿透式电子显微镜试片之制作方法

TW094125071 2005-7-25 发明授权

2006-8-1

一种穿透式电子显微镜试片之制作方法，此方法是当在一待检测片上完成第一试片制作，而使待检测片的顶表面产生一凹陷处後，於此凹陷处的侧壁上形成一填补层，并且利用此填补层，於邻近此凹陷处的待检测片上进行第二试片的制作。