| 具共光程移相干涉术之表面电浆共振显微镜 |
| TW093137200 2004-12-2 发明申请 |
| 2006-6-16 |
| 本发明揭示一种具共光程移相干涉术之表面电浆共振显微镜，可藉由相位还原而达到二维成像。该表面电浆共振显微镜包含一同调光源、一耦合器、一电光调变器及一影像撷取器，其中该耦合器有一表面涂布至少一金属层。该同调光源所发出同调光线会射入该耦合器，并激发该金属层而产生表面电浆波。由於P偏振入射光才能激发表面电浆波形成共振现象，而且该共振现象会随着该金属层表面上界面条件改变而造成反射光线之相位骤变。另外，因为S偏振光相位保持不变可作为参考光，利用该电光调变器使其与该P偏振光产生相位移干涉，并由该影像撷取器取得相关之干涉图案。 |
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