| 光学部件的检测方法在显微镜的光路径E。G。荧光显微镜，其中组件的光谱特性是四个离散光谱区外的显微镜光路中确定 |
| DE102004048846 2004-10-4 发明申请 |
| 2006-4-20 |
| 本发明涉及一种显微镜具有一个用于所述光学结构单元的自动识别装置，其可以规则在所述所述显微镜或被带来的光线的路径E。G。通过一个电子枪的装置或一slidegate阀为这些，以及作为所述相关联的过程用于所述这些元件的识别。在该元件至少四个光谱区域内的所述的特性被确定和之前相比，还在一数据基公知的元件放下的值。 |
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