| 荧光显微镜，和荧光相关分光分析仪 |
| JP2004258927 2004-9-6 发明申请 |
| 2006-3-16 |
| 要解决的问题 : 以提供一个荧光显微镜提供与激励光的照射光学系统和一荧光使用的相关分光分析仪有利地用于分别测量多个激励光照射区域的同时或顺序地通过荧光相关光谱法。溶液 : 该荧光显微镜11被提供有一物镜透镜101，一种二向色镜102，一种半反射镜105，一种反射镜106，一激光束源111，一种ND滤光器112，一束扩展器113，一反射镜114，一个空间光调制元件115，一透镜131，一个带通滤波器132，一种空间光调制元件133，一种检测部134，和该等。所述空间光调制中是可变的空间调制元件115，和数量，位置和形状的所述与激励光被照射区域能够被设置在一测量样品1，通过照射被测样品1与所述空间调制的光通过下文中所述光学系统。版权 : (C)2006，膜℃。 |
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