| 用于激光显微镜样品台，激光显微镜 |
| JP2005007824U 2005-9-22 实用新型 |
| 2006-1-12 |
| 要解决的问题 : 测量入射激光束部分表面入射角度大，得到的清晰图像。此外，表面测量入射激光束被入射角度大，光反射向光电检测器的数量侧增加。方法 : 激光显微镜支架(10)，样品20反射的激光束从激光显微镜样品光学方式观察样品台设置，光入射激光的光轴上，安装样品，样品放置在放置表面11具有凹形反射面。的形状，凹表面11，以外的光轴的方向从样品到样品台和再次反射激光，通过增加光量返回在方向检测器，得到清晰的图像。选择绘制 : 图。1 |
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