| 扫描探针显微镜及其使用方法。 |
| JP2004128770 2004-4-23 发明申请 |
| 2005-11-4 |
| 要解决的问题 : 以提供一个扫描探针显微镜所观察的适当地适于所研究的所述晶格的线的磁性感应或磁通中的一个电子状态的inlusive该研究的一个纳米级非均匀的超导状态和所述的观察该样品的表面上的不均匀的图像，和其使用方法。溶液 : 为所述的所述扫描探针显微镜探针12，一压力感应超导物质被使用。作为该压力感应超导物质，例如，LA2-xbaxcuo4(1\/8)是使用X是在所述的附近。当所述探针12是与所述样品的表面接触，所述的前端部该探针12成为一超导状态由该压力施加到所述所述探针的前端部及该探针12之间的所述电流-电压特性和所述安德烈耶夫样品13是通过改变反射。版权 : (C)2006，膜℃。 |
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