用于研究样品中激发态寿命的显微镜
 
US11106193  2005-4-14  发明申请

2005-10-20
 
  一种用于研究样品中激发态寿命的显微镜,具有产生激发光的光源和接收来自样品的检测光的检测器。 光源包含发射脉冲激发光的半导体激光器。 提供了一种调节装置,用于将脉冲重复率调节到样品的特定寿命特性。
 
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