| 定量荧光显微镜 |
| US11139375 2005-5-26 发明申请 |
| 2005-9-22 |
| 本发明涉及校准装置， 在显微镜中使用的方法或工具一种用于荧光显微镜的校准工具，包括支撑件， 包括荧光材料的固体表面层， 以及限定参考特征开口的非荧光材料的薄不透明掩模，所述参考特征开口具有暴露表面层的部分的选定尺寸。第一种类型的校准工具可以包括粘合促进剂，所述粘合促进剂便于载体表面和包括荧光材料的固体表面层之间的接触，所述固体表面层与薄不透明掩模接触。第二种类型的校准工具可以包括在载体上制造的薄不透明掩模(具有或不具有粘合促进剂)，并且包括位于薄不透明掩模上的荧光材料的固体表面层 |
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