扭转补偿式低能电子显微镜
 
US10889240  2004-7-12  发明授权

2005-9-13
 
  公开的一个实施例涉及用于检查衬底的Leem型设备。 照明系统产生入射光束,物镜系统将入射光束聚焦到衬底上。 在这种情况下,物镜系统包括在入射光束中引起圆周速度的磁浸没透镜,并且照明系统包括在入射光束中引起圆周速度的另一磁浸没透镜,该磁浸没透镜补偿由物镜系统中的磁浸没透镜引起的圆周速度。 有利地,这使得能够改善使用磁浸没物镜的并行成像电子束系统的性能。
 
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