| 薄层扫描电镜 |
| DE102004045712 2004-9-21 发明申请 |
| 2005-5-19 |
| 一种用于对断层造影图像进行去影的方法，包括：选择大于待检查的断层造影图像的检查元素的数学形态学结构化元素；对所述图像执行数学形态学操作；以及从所述检查元素中区分所述图像的背景以去除所述背景。 数学形态学操作可以是对正像的扩张或关闭。 对于负像，数学形态学操作可以是侵蚀或开口。 实施例要求使用两个结构化元件的功率，两个结构化元件的双向功率，梯形结构化元件或倾斜结构化元件。 数学形态学操作可以包括由有限支撑的结构单元进行的至少一个分段线性扩张或侵蚀。 阈值可以用于提供去阴影的二值图像。 |
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