用于扫描探针显微镜检查的微调机构
 
CN200510009021.0  2005-2-16  发明申请

2005-8-17
 
  一种用于扫描探针显微镜检查的具有高刚度和 高测量精度的微调机构,通过布置安装在小的空间内的应变计 位移传感器,能够获得温度补偿。由压电器件形成的微调机构 设有至少两个电极,其中一个电极用作无电压施加的补偿电 极,而另一个电极用作有效电极,当施加电压时该有效电极在 压电器件上产生应变;一个或两个电阻设置在有效电极和补偿 电极的每一个上,并通过电阻形成桥式电路。
 
仿站