| 利用单壁碳纳米管测量原子力显微镜针尖半径的方法 |
| CN200510009716.9 2005-2-6 发明申请 |
| 2005-8-3 |
| 本发明公开一种测量原子力显微镜针尖半径的 方法。利用单壁碳纳米管测量原子力显微镜针尖半径的方法通 过以下步骤实现：：把直径为1～5nm的单壁碳纳米管沉淀在 云母片表面上；用原子力显微镜测出单壁碳纳米管的测量宽度 w和高度h，该原子力显微镜上用于测量单壁碳纳米管的针尖 就是待测针尖；根据单壁碳纳米管的测量宽度w及高度h计算 出待测针尖的半径。本发明利用单壁碳纳米管作为标准样品测 量评估原子力显微镜的针尖半径，具有数学模型简单、直观， 物理含义明确，测量评估精确、高效、实时等优点。可以测量 1nm以上的针尖半径。另外重复测量与计算结果具有好的一致 性。本发明具有方法简单、工作可靠的优点，具有较大的推广 价值。 |
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