产业集群信息网

产业专利数据

光栅用于荧光寿命成像显微镜检查显微镜样品的调查过程将连续和脉冲光通过分束器和声-光分量

DE10359374 2003-12-18 发明申请

2005-7-14

一光栅显微镜样品的调查过程将连续(11)和所述相同的脉冲(5)的光波长与激发样品(41)光活性的用于一flim(荧光寿命成像显微镜)检查并把它耦合到所述显微镜(37)通过一分束器(19)和功率调整(13)声光(15)组件。-独立权利要求书是包含用于一个光栅显微镜使用该过程与光导向携带所述组合的光。