| 光阱的近场光探头显微镜和近场光学检测方法。 |
| JP2003421773 2003-12-19 发明申请 |
| 2005-7-7 |
| 要解决的问题 : 提供一种光阱的近场光探头显微镜，能够获得高的S\/N比在一稳定地捕获和检测到的近场光检测信号通过一个光阱探针，并提供一种近场光学检测方法。溶液 : 该光阱的近场光探头显微镜是构成，使得所述的光阱探针(15)，设置有一金属部件(17)在所述的整个或部分所述表面的介电微结构(16)，是用于执行位置扫描该捕获由于冷凝后的光通量被允许接近所述表面的一个待检查的对象到检测产生的散射光，通过散射所述冷凝的光通量通过两个所述的光学阱一个样品探针和所述的表面或散射的光穿过该样品的一部分。 |
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