| 偏光显微镜及像场内校正分析方法 |
| US18175452 2023-2-27 发明申请 |
| 2023-9-28 |
| 所述偏振显微镜包括被配置为产生照明光的光源、被配置为与所产生的照明光相互作用以透射具有第一取向的直线偏振光的偏振器、被配置为透射由样品反射的直线偏振光的分量的分析器、被配置为获得所述反射的直线偏振光的图像的图像获得器、以及被配置为处理所获得的图像的图像处理器，其中所述图像处理器被配置为计算装置整数， 获取每个感兴趣区域(ROI)的多个磁滞回线，利用所述设备整数和所述多个磁滞回线计算每个感兴趣区域的Kerr旋转的旋转角度。 |
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