产业集群信息网

产业专利数据

原子力显微镜和使用原子力显微镜测定样品表面性质的方法

US10688630 2003-10-17 发明申请

2005-4-21

一种使用原子力显微镜确定样品表面性质的方法，包括在样品和探针之间施加第一电压，将探针朝向样品表面移动，并且当最初检测到探针中的电流时停止探针朝向样品表面的移动。向探针施加振荡磁场，使得探针获得与样品表面的稳定接触。