具有参考样品的显微镜
 
US10919899  2004-8-17  发明申请

2005-4-14
 
  本发明涉及一种显微镜, 尤其是一种共焦或双共焦扫描显微镜, 以及一种用于操作显微镜的方法,提供至少一个与所述样品相关联的样品支撑单元,提供至少一个已知结构的参考样品,并且所述参考样品可通过光学显微镜检测,用于校准,对准或调整所述显微镜。 利用根据本发明的显微镜和根据本发明的用于操作显微镜的方法,可以检测和补偿与漂移相关的变化。 还提供了一种辅助装置,利用该辅助装置可以容易且可靠地对样品进行聚焦。
 
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