| 荧光显微镜和激励光源控制方法，其 |
| JP2003324413 2003-9-17 发明申请 |
| 2005-4-7 |
| 要解决的问题 : 以提供一个荧光显微镜，其允许所述激励光的强度被控制，通过检测一个精确的观察位置中的激励光的强度。溶液 : 所述荧光显微镜是提供有; 一光源1用于产生激励光，一第一的光强度检测器3，它是一体地设置与所述光源1和测量所述激励光的强度; 一种照明光学系统6用于辐射激励光到一个样品设置在该观察位置; 一个用于观察的观察系统从所述样品发出荧光，导致从激发的辐射光; 和一个第二的光强度检测器，其中该观察位置中测量所述激励光的强度，同时所述样品是从该观察位置后退引起的，和第一的光强度的检测值检测器和其第二的光强度检测器是与每个其它相关联的，使得所述的激励光的强度所述光源1可以通过使用第一光强度控制的检测器。 |
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