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多光子荧光显微镜与平面阵列检测器

WOEP04010269 2004-9-14 发明申请

2005-3-31

本发明公开了一种多光子荧光显微镜(M)，包括一个激励束路径，与一个透镜(2)，其收集所述激励束(1)在一个焦点(4)在所述样品(5)，一扫描装置，其中调整该聚焦点(4)。至少一维，和一个检测器装置，其记录所述样品中荧光辐射受激的多光子激发，由此所述检测器装置包括一平面阵列检测器(9)，位于所述相反侧上的样品(5)到所述透镜(2)。