| 处理用于在诸如透射电子显微镜的带电粒子设备中研究的样品的系统和方法 |
| US18124465 2023-3-21 发明申请 |
| 2023-9-21 |
| 本发明涉及一种样品处理和存储系统。 所述系统用于存储和处理样品，所述样品可以是低温样品，所述低温样品被布置成用于带电粒子显微术，例如用于冷冻透射电子显微镜的冷冻电子显微镜样品。 该系统包括用于存储多个样品的存储装置，以及在远离所述存储装置的位置处的带电粒子装置(CPA)，例如低温TEM。 该系统还包括传送设备，该传送设备可释放地连接到所述存储装置，并且该传送设备也可释放地连接到所述CPA。 如本文所定义的，所述传送设备被布置成当连接到所述存储装置时从所述多个样本获取样本，并且被布置成当连接到所述CPA时将所述样本从所述传送设备传送到所述CPA。 |
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