| 透射电子显微镜的观察方法 |
| US10944842 2004-9-21 发明申请 |
| 2005-2-24 |
| 本发明公开了一种通过透射电子显微镜观察非晶材料中缺陷的方法。 所述方法包括以下步骤 : 将电子束入射到非晶材料中； 仅通过穿过非晶材料的透射波消除所产生的衍射波以形成图像； 以及在欠聚焦条件下观察图像。 本发明还公开了一种通过透射电子显微镜分别观察含有非晶材料和结晶材料的复合材料中的非晶材料和结晶材料的方法。 当观察到非晶材料中的缺陷时，将电子束注入非晶材料中，并消除产生的衍射波，然后仅通过穿过非晶材料的透射波形成图像以在低聚焦条件下进行观察，而当观察到晶体材料时，将电子束注入晶体材料中，并通过产生的衍射波和穿过晶体材料的透射波形成图像以进行观察。 |
微信公众号