| 显微系统，用于显微镜的控制方法和程序 |
| JP2003272286 2003-7-9 发明申请 |
| 2005-2-3 |
| 要解决的问题 : 以适当地校正由所述盖玻璃的厚度引起的光学像差和一个透射样品夹持件即使在所述改变的情况下所述物镜的透镜所聚焦的位置相对于一个样品。溶液 : 一PC110确定用于引起该光学像差校正量由所述厚度的所述盖玻璃用于保护所述样品105或所述保持部件，用于基于所述样品和具有透射率保持在一个之间的距离该样品105设置在所述显微镜100和所述物镜透镜104所述显微镜的100。一校正环控制器101通过校正所述像差进行控制，使得所述校正所述的旋转角度所述物镜的环形104是根据控制指定改变从该PC110基于所确定的校正量。 |
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