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方法被用于在荧光显微镜

WOEP04006202 2004-6-9 发明申请

2004-12-29

本发明公开了一种方法被用于在荧光显微镜，特别是与一激光扫描显微镜，根据其所述至少一频谱部分中被检测到的荧光光谱分辨的方式同时参考光谱被用于光谱分层。本发明的方法是，其特征在于，所述的参考光谱在时间上和\/或频谱修改的染料和\/或染料组合被记录和用于评价图像。