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光栅与一个装置到所述荧光显微镜相关光谱

DE10329756 2003-7-2 发明申请

2004-12-23

一光栅与一个装置到所述荧光显微镜相关光谱被揭示。该光栅显微镜，其特征在于，所述的事实所述的照明光的强度和\/或检测灵敏度被所述测量体积内的空间调制。