| 扫描光学显微镜方法、扫描光学显微镜和计算机程序 |
| EP22160107 2022-3-3 发明申请 |
| 2023-9-6 |
| 本发明涉及一种扫描光显微术方法，包括用照射光照射样品(2)，借助于包括可调节控制参数的扫描仪(4)在样品(2)上方或穿过样品(2)扫描照射光的聚焦光分布，以及检测由样品(2)中的发光实体响应于照射光发射的光，以获得样品(2)的图像或获得样品(2)中的单个发光实体的定位地图(22)， 其中，所述方法由扫描光学显微镜(1)执行，所述扫描光学显微镜能够以至少两种不同的操作模式操作，并且其中，所述方法包括根据操作所述扫描光学显微镜(1)的操作模式来调节所述扫描仪(4)的控制参数。 本发明还涉及一种扫描光学显微镜(1)和用于执行该方法的计算机程序。 |
微信公众号