| 共焦4-π用于共焦显微镜和方法4-π显微术 |
| WOEP04000029 2004-1-6 发明申请 |
| 2004-7-22 |
| 本发明涉及一种共焦4aπ显微术方法，其特征是由相干照明样品从两个侧面通过一个物镜每个与照明光，其具有至少一个照明波长，其中一个固定的照明波具有一主照明的最大和二次照明产生的最大值是通过所述样品中所述的照明光的干扰。所述检测通过所述样品发出的光具有至少一个检测波长和被检测通过所述两个目标。所述检测光被制成以干扰，从而产生所述样品中的一种检测图案具有一个主检测最大，二次检测最大值和检测在这种方式使该二次最小值照明的最大值和所检测的最小值至少部分地重叠。 |
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