增强偏振光显微镜
 
US10435929  2003-5-12  发明申请

2004-7-1
 
  一种用于确定样品光学特性的显微镜系统,包括偏振光源,用于检测入射到其上的光的强度的检测器,从光源延伸到检测器的光路,用于将光从光源提供到样品的聚光器,用于接收来自样品的光的物镜,用于安装样品的支架,安装在光路中的扇形可变延迟器,以及安装在扇形可变延迟器和检测器之间的路径中的偏振光分析器。 可变延迟器具有多个扇区。 每个扇区可由影响扇区的光延迟特性的控制信号单独寻址。
 
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