具有同轴扫描电子显微镜的聚焦离子束系统
 
US10635228  2003-8-6  发明申请

2004-6-10
 
  一种包括同轴聚焦离子束和电子束的系统,允许使用由电子束形成的图像对FIB进行精确处理。 在一个实施例中,偏转器将电子束偏转到离子束的轴上,并将通过最终透镜收集的二次粒子偏转到检测器。 在一个实施例中,正偏置的最终静电透镜使用相同的电压聚焦两束光束,以允许同时或交替的FIB和SEM操作。 在一个实施例中,可以改变电子的着陆能量而不改变工作距离。
 
仿站