扫描无孔径荧光显微镜的方法和系统
 
US10616896  2003-7-9  发明申请

2004-5-13
 
  本发明描述了用于操作用于观察物体上的分子灵敏度的一个或多个特征的无孔显微镜的方法和系统。 更具体地说,所述方法包括在样品的特征附近移动耦合到悬臂的探针的尖端,所述悬臂基于所述探针的尖端在所述特征附近的存在以相对于所述样品的背景速率的检测速率发射一个或多个光子。 所述方法修改所述样本的特征的检测速率,由此所述检测速率的修改导致所述样本的特征相对于所述特征的背景速率增强。
 
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