用于制备银纳米结构的方法通过装置的扫描隧道显微镜
 
WOJP03011914  2003-9-18  发明申请

2004-4-15
 
  一种方法用于制备一种银纳米结构由一种扫描隧道显微镜的装置,其包括使用一种探头被制成的银或具有一表面涂覆有一薄银膜,并施加一个电压脉冲到所述探头,以由此转印的银材料从所述探针在所述的一半导体衬底表面在一种纳米刻度。该方法允许一种银纳米结构的所述制备具有容易表现出高导电性的和被最佳作为一种用于一个任意位置上的电极材料的一个半导体衬底。
 
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