扫描电子显微镜
 
US10648388  2003-8-27  发明申请

2004-2-26
 
  为了能够观察接触孔的底部和内部导线, 在观察接触孔102时, 以预定的加速电压扫描, 在绝缘体(101)的表面上形成正电荷(106),二次电子(104)被该电场吸引到空穴中,在不同于加速电压的加速电压下连续扫描空穴,并观察样品。 当要观察埋入绝缘体内的导线时, 通过在预定的加速电压下观察绝缘体, 允许电子束进入样品,并且在不同于加速电压的加速电压下连续扫描样品,因此线的存在被反映为表面电荷的变化,并被观察。 在任一种情况下, 在观察前的加速电压与观察中的加速电压不同,以产生正电荷或负电荷的加速电压暂时照射样品表面,然后将加速电压返回到适合观察的加速电压,并观察样品。
 
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