| 元件-特定操作的X-射线荧光显微镜和方法 |
| WOUS03016913 2003-5-29 发明申请 |
| 2003-12-11 |
| 一个元件-特定成像技术利用所述元件-特定荧光X-射线，其被诱导的初级电离辐射。所述感兴趣的荧光X-射线从一个元件被然后，优先使用一个光学列车成像到一个检测器。所述的光学列车所述优先的成像是使用色透镜实现在一适当配置的成像系统。一区的这种色的透镜板是一个例子; 其焦距为所述X-射线波长成反比。增强一给定的优先成像元件的所述测试样品中可获得如果该区域板透镜本身是由一含化合物的基本上相同的元件。例如，当成像使用所述的铜CuLa谱线，一铜带片透镜被使用。 |
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