原子力显微镜
 
GB0316577  2003-7-15  发明申请

2003-8-20
 
  探头(22),用于原子力显微镜适合于使得,作为样品(14)进行扫描,这经历一个偏置力Fdirect探针推向样品。这提高了探头trackingof样品表面和更快扫描成为可能。这是通过包括偏置元件(24,50),其响应于外部施加的力,在探头(22)和/或降低支撑梁的品质因子。所述偏置元件可以是,例如,磁铁(24)或导电元件(50)。质量因子可以减少通过涂覆beamwith机械消能材料。
 
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