| 色谱分析仪 |
| US11599402 2006-11-15 发明申请 |
| 2008-5-15 |
| 当在分离条件改变后分析包括给定参考组分的标准样品时， 数据处理部分(31)获取在通过分析获得的色谱图中出现的参比组分的峰的实际测量值， 和分析条件信息存储部(34)中存储的分离条件变更前的基准成分的保持时间的信息，估计期望成分的峰值的保持时间的偏差，校正存储在分析条件信息存储部(34)中的SIM测量参数的各离子组的测量时间范围。 SIM测量根据在分析预期样本时校正的参数进行，从而使得能够由操作者进行期望的测量。 |
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